MER INFORMASJON
 
KONTAKT
Bruksområder

Måle- og kontrollteknikk

Til mikroskoper og kameraer

Tillit er bra. Kontroll er bedre. Dette prinsippet gjelder i aller høyeste grad for halvleder- og kretskortproduksjonen. Omfattende måle- og testprosesser – optiske, elektriske eller med røntgenstråler – sikrer topp kvalitet, hver gang. Dette er presisjon på nanometernivå.

Hva er da mer naturlig enn å tenke på INA? Nærmere bestemt på nålelagrene våre? Plassbesparende og ekstremt presise.